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美国已采用了利用超细铝箔作为负载的Z-pillch物理实验，获得了较好的实验结果。实验结果表明，此种物理负载可作为丝阵负载的重要补充。由于铝箔负载的表面粗糙度大小直接影响着物理实验中的RT不稳定性的抑制，因此需将其粗糙度控制在较低等级(约50nm左右)。实验选用了机械抛光和电化学抛光法进行，以期进一步降低铝箔表面的粗糙度。目前针对降低超薄铝箔表面粗糙度的研究尚未成体系。