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存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路,必须经过许多必要的测试以保证其功能正确.对于其入厂检测来说,测试向量不仅要自行开发,而且需要达到一定的覆盖率才能检测出存储器的绝大部分功能性错误,这对测试方法、测试设备提出了较高的要求.本文分析了V93000测试系统上存储器测试向量开发的工作原理,讨论了存储器的测试方法,并基于V93000测试系统实现了存储器的测试.