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建立了腔体内带介质层导线X射线瞬态辐照响应的电路计算模型，并介绍了计算模型中电流源、电容参数的物理意义及其计算方法，该模型考虑了X射线辐照线缆时电子的运动规律、瞬态响应的产生机理，适用于瞬态响应的规律研究和工程预估。利用该模型对腔体内带介质层导线响应与介质层厚度以及射线能量之间的关系进行了研究。结果表明：变化介质层厚度时，负载响应存在峰值；射线能量不同时，导线响应极性发生了变化，射线能量增大到一定值以后，响应变化幅度趋缓。