【摘 要】
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光学三维测量方法领域中,基于面结构光投影的测量方法可等效为广义波长量级的干涉计量,在此基础上又衍生出基于条纹反射的测量方法,前者适用于漫反射表面物体测量,后者适用于镜面反射表面物体面形测量,但两种方法有一个共同目标,即如何使得测量结果可靠,测量精度高。
【机 构】
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四川大学,电子信息学院光电科学技术系
【出 处】
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2016年全国光机电技术及系统学术会议暨中国光学学会光电技术专委会/中国仪器仪表学会光机电分会会员代表大会
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光学三维测量方法领域中,基于面结构光投影的测量方法可等效为广义波长量级的干涉计量,在此基础上又衍生出基于条纹反射的测量方法,前者适用于漫反射表面物体测量,后者适用于镜面反射表面物体面形测量,但两种方法有一个共同目标,即如何使得测量结果可靠,测量精度高。
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