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橡胶O形圈密封结构是航天器常用的密封结构形式之一，故研究橡胶O形圈的密封机理具有重要的工程意义。本文首先基于密封泄漏模型给出了一个计算橡胶O形圈漏率的理论公式，并利用此公式合理解释了检漏过程中漏率随时间逐渐变大的一类现象。结果表明：漏率在初期随时间变化较大，经历一段时间后，逐渐趋于稳定。这一结果与实际检漏过程中的测试现象是一致的。