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钎焊缺陷是影响电触头性的二维超声C扫描图像可以反映钎焊缺陷的分布特征.利用超声C扫描图像的二值化处理后的图像可以计算出该界面的钎着率,并根据所得的钎着率判断电触头钎焊质量的好坏.本文分析研究了钎着率的计算方法,检测钎着率的影响因素.
低压电器电触头质量检测与评价的研究
【摘 要】
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钎焊缺陷是影响电触头性的二维超声C扫描图像可以反映钎焊缺陷的分布特征.利用超声C扫描图像的二值化处理后的图像可以计算出该界面的钎着率,并根据所得的钎着率判断电触头钎
【机 构】
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西安交通大学,焊接研究所,陕西,西安,710049
【出 处】
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中国电工技术学会低压电器专业委员会第十三届学术年会
【发表日期】
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2007年期
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