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高压太阳阵与LEO等离子体相互作用可以造成电池阵的电流泄漏，引起太阳电池阵的功率损耗。本文在分析高压太阳电池电流泄漏物理机理的基础上，通过建立高压太阳阵与等离子体相互作用的简单模型，利用PIC(panicIe-in-cell)方法编制二维模拟程序，研究了太阳电池表面玻璃盖片二次电子发射与功率损耗的关系，得到的不同二次电子发射特性下损耗功率和与工作电压的特性曲线。