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综述了国内外计量机构材料光谱发射率测量技术的研究进展。通过对不同测量系统的测试仪器、样品温度测量方法、测量范围及其测量不确定度的详细比较，概括和总结了影响发射率测量准确度的主要因素及值得借鉴的改善方法和建议，展望了材料光谱发射率测量技术的发展趋势。
材料光谱发射率测量技术研究进展
【摘 要】
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综述了国内外计量机构材料光谱发射率测量技术的研究进展。通过对不同测量系统的测试仪器、样品温度测量方法、测量范围及其测量不确定度的详细比较，概括和总结了影响发射
【机 构】
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Changcheng Institute of Metrology&Measurement,Beijing 100095,China
【出 处】
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第六届全国温度测量与控制技术学术交流会
【发表日期】
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2012年期
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