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<正>1、BI—XDC型X射线粒度分析仪厂家:美国Brookhaven仪器公司该仪器测量粒径范围:10nm-100μm,重复性误差±1%,可在0.1μm的区域内分辨出双峰.测量过程直接由IBM486微机控制。输出结果包括:累积质量分布、差分质量分布、Δd50值、几何平均值、体积矩平均值等,是测量纳米至微米