残像一直是影响液晶显示质量的一个重要问题,其可以被抑制,但很难完全消除。在消费电子类和专业显示等较为成熟的液晶显示应用领域中,现有残像的抑制水平已基本可以达到观察者无法辨识的程度。但随着液晶显示在车载领域被大量应用时,因为其严苛的测试标准和实际应用时的不同需求,现有抑制残像的各种方法已无法满足要求,所以随着车载液晶显示的飞速发展,进一步抑制残像已成为一个亟需解决的问题。关于残像产生的机理分析主要基于离子模型,长期以来通过在液晶显示器件中与液晶接触的各层材料特性分析,比如液晶材料的配比和配向膜材料的特性等,研究了它们对残像的影响。当然也有较多关于驱动电压与残像之间关系的研究。残像的成因较为复杂,通常认为其是由不同诱因共同作用的结果。本文首先基于残像的成因和辉度曲线进行理论分析,将所有残像的成因归结为两种情况,由驱动电压中的直流分量导致的残像和交流分量导致的残像,并分别就这两个因子展开分析;同时,因为离子污染导致的电压是直流分量还是交流分量随机,所以将其列为单独讨论内容。本文在分析残像形成三个成因时,发现了诸多问题。分析驱动电压的直流分量时,发现了灰阶画面下公共电极电压影响因子的变化可等效于一个直流电压分量,同时发现充放电路径上的漏电流会导致直流电压分量的产生,从而诱导残像的发生。分析驱动电压的交流分量时,发现了配向力弱会导致一个交流电压分量作用于像素电极上,从而形成残像。分析离子污染时,发现了色阻材料存在离子析出的问题,以及液晶与框胶接触时会有离子的析出的问题,从而诱导残像的产生。更进一步地,本文就发现的问题和分析的诱因,提出了不同的改进方案,针对直流分量导致的残像的改进方案有:提升薄膜晶体管的漏电流的稳定性,减小与像素电极接触介质的电阻率,使用非对称公共电压调试程序调试公共电极电压。针对交流分量导致的残像的改进方案有:提升配向膜的配向力。针对离子污染导致的残像的改进方案有:选择电压保持率较高的色阻材料,在色阻材料与像素电极之间引入介质,尽可能扩大液晶和框胶的距离。并通过实验验证以上方案的改进效果。同时,文章也分析讨论了改进方案是否会有新问题的引入。综上所述,文章分析了诱导残像产生的各种原因,并在其基础上提出并验证了不同的改进方案。为残像问题的机理分析提供了思路,并为车载显示中的残像问题提供了有效的解决方案。