当今,人们能够用各种各样的方法制备高温超导薄膜,高温超导薄膜也已经应用于微波、军事、通讯等领域.对于超导薄膜而言,除了要有高的临界温度,还要求有高的临界电流密度的良好的表面均匀性.该文陈术了一种利用磁屏工蔽的原理,采用30个初、次并绕线的线圈作为探头,能够测量直径小于50mm(2英寸)的高温超导双面薄膜临界参数的测量系统,这个测量系统只需要一个热循环就可以给出超导双面薄膜30个点的临界温度和临界电流密度值,整个测量过程是无损.整个系统的全部运行过程采用计算机控制,自行设计了面向本系统的专用软件、软件系统运行在Windows操作系统中,有良好的用户界面,操作简单、快捷、而且不易出现由于人为因素造成的问题.在该文中,讲述了高温超导薄膜的发展进程以及目前应用情况,阐明了对高温超导薄膜的临界参数进行测量的必要性;陈述了系统对临界温度和临界电流密度的测量原理;详细叙述了系统的硬件制作、电子系统的设计,列出了在系统研制过程中遇到的问题,并给出了解决方法;该文还详尽地讲述了测量系统的软件各部分、各过程的实现方法;最后一冰分是还利用本系统所得的测量结果,对所得到的测量结果进行了分析,并对误差的来源、影响测量的几个因素进行了讨论.