随着集成电路进入超深亚微米级，SoC技术的应用使得设计和制造成本大幅下降，SoC技术得到越来越广泛的应用。对SoC的研究越来越多，可重构SoC概念也随之出现，虽然 IP核的重构复用在一定程度上缩短了设计周期，但是却增加了对其测试的复杂度，提高了测试成本，增大测试成本占 SoC总成本的百分比。SoC测试成为了限制SoC发展的一个重要因素。　　本文通过分析 SoC测试的发展情况，提出了对测试时间和测试功耗联合优化的测试优化问题，并且对该多目标优化问题建立了多目标优化的数学模型，为使用多目标进化算法求解多目标优化问题提供了数学模型。然后通过对SPEA-II算法和云模型进行研究，分析了SPEA-II算法的算法特点，和云模型的特性以及云模型对进化算法的改进意义，进而在SPEA-II算法的基础上，深入研究使用云模型对SPEA-II算法的改进，提出一种基于云模型的改进型SPEA-II算法，简称为CSPEA-II算法。　　最后将CSPEA-II算法用于SoC测试结构的多目标优化，对ITC’02标准测试集的电路进行SoC测试结构优化求解，对本文提出的CSPEA-II算法的应用效果进行验证。分别对p93791，d695和p22810电路的优化结果数据进行分析，以及和其它算法所得结果数据对比；验证了云模型对SPEA-II算法在寻优能力及寻优速率方面具有改进效果，以及CSPEA-II算法在解决测试时间和测试功耗联合优化的多目标SoC测试优化问题上具有较好的寻优能力，较快的寻优速率，有利于改进SoC测试优化结构，降低SoC测试成本。