石墨是碳原子以层状排列构成的晶体,由于其层内结构牢固,而层间仅以范德瓦尔斯力连结,使得石墨可以以层状剥离,当剥离至单原子厚度,就得到了碳单层。而将碳单层平行截断,形成的在单方向无限延伸的准一维平面结构,就是带状碳单层。带状碳单层以其独特的性质和作为半导体纳米材料的应用前景吸引了科学工作者的广泛关注。　　 带状碳单层的制备依然较为困难。事实上,带状碳单层在解理后的石墨表面以碎片的形式大量存在。要利用这些带状碳单层,有必要研究带状碳单层与石墨表面的相互作用,弄清石墨表面的带状碳单层是否依然具有孤立带状碳单层的电学性质。　　 本文首先利用第一性原理的平面波赝势方法,比较了位于石墨基底上的Armchair和Zigzag带状碳单层与孤立带状碳单层的结构和能带,发现:带状碳单层在石墨基底上造成了凹形变;基底削弱了带状碳单层电学性质的表现,但并未改变带状碳单层的电学性质规律,石墨基底上的带状碳单层依然具有与孤立时同样的电学性质。　　 此后,本文介绍了正在开发中的两种可用于检测石墨基底上带状碳单层性质的实验测量系统,分别是四探针电学测量系统和扫描共焦显微系统。目前仪器选购和控制程序开发调试已经完成,经测试,均可顺利运行。