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VO_2具有接近室温的金属-绝缘体相变(MIT)温度(68 ℃),相变过程伴随着电学、光学、磁学性质的突变,其中蕴含丰富的物理内涵,对该相变行为的调控和机理的研究是当前的热门领域,其中对Peierls结构相变和Mott电子相变这两种机理的争论尤为突出。研究表明两种相变机理相辅相成,但哪一种机理处于主导地位仍不清楚。本文的研究目的是选用N离子注入和表面电荷掺杂这两种实验方法,考察Mott电子相变机制在VO_2相变过程中的作用。利用同步辐射光电子能谱(SRPES),近边X射线吸收精细结构(NEXAFS)