过去几十年集成电路一直按照摩尔定律发展,其每个晶体管的制造成本呈现持续下降趋势,但每个晶体管的测试成本却基本保持不变,因此随着集成度的不断提高集成电路的总测试成本始终呈上升趋势。为了降低测试成本,改变测试成本上升趋势,必须研究新的测试原理和方法,可测试性设计就显得更加重要。本论文首先根据稳态电流的原理,提出了集成电路的故障点确定算法,结合电路的拓扑结构和静态电流信息实现定位,避免了使用故障字典,并且通过仿真结果说明该算法能对多故障电路实现故障诊断。该算法优点在于可以快速、准确地确定故障点,为系统维修争取时间。第二部分首先对最常用的内建自测试(BIST,Built-In Self Test)进行了设计和实现,随后重点研究了近年来的热点问题低功耗测试,低功耗内建自测试是低功耗测试领域较热门的研究方向。本文就当前研究现状对其进行了深入分析和详细分类,并就各种情况下的应用提供了解决方案。各种方案的面积开销、测试效率和功耗都不同,最后以此为基础提出了一种新的低功耗BIST测试向量生成器,该结构通过添加一个线形反馈移位寄存器(LFSR,Linear Feedback Shift Register)的输入端,由选择器对LFSR中测试矢量的生成进行选择,从而跳过对故障覆盖率没有贡献的测试矢量,大大减少了测试矢量长度和测试时间。