【摘 要】
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该文介绍了以北京自由电子激光装置为光源的扫描近场红外显微镜（SNIM）的研制情况,以及利用该装置对化学样品进行微区近场光学成像.该扫描近场红外显微镜是一种具有特定用途的扫
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该文介绍了以北京自由电子激光装置为光源的扫描近场红外显微镜（SNIM）的研制情况,以及利用该装置对化学样品进行微区近场光学成像.该扫描近场红外显微镜是一种具有特定用途的扫描近场显微镜,它在样品的近场中红外光谱和近场微区成像研究中能发挥重要的作用.包括,探头部分、高精度三维扫描系统、近场控制系统、光信号探测系统和信号处理系统.该文重点介绍了探针-样品之间距离控制系统的研制.在这套系统中,我们采用切变力距离控制机制,并应用技术上比较成熟的石英晶振超声共振的调控方法检测针尖和样品表面的间距,比较好地解决了近场逼近及探测和近场距离控制的问题.我们设计的SNIM的光路系统,可以方便地完成透射式收集模式的近场光学实验.文章最后详细介绍了应用此SNIM装置并配合北京自由电子激光装置对由聚乙烯和聚丙烯组成的混合体薄膜进行中红外近场微区成像的实验;并通过得到的SNIM图像比较合理地分析了两种成分在各个样品微区分布的情况.
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