正畸治疗主要通过施力于牙冠表面，使牙齿在牙槽骨内移动，进而引起牙周组织发生组织学改建等一系列过程而完成。因此移动牙所处的牙槽骨结构形态是影响牙齿移动的重要因素之一。上颌前磨牙位于第一磨牙之前口腔转角后区，不仅对后牙区咬合、支抗控制有重要影响，而且对正面静态及微笑美观均有影响。治疗前上颌前磨牙在牙槽骨内的位置对治疗中牙齿安全快速的移动及治疗后面部的美观具有重要的参考价值。以往常用的正畸影像学检查方法主要有头颅侧位片、正位片及曲面断层X线片等二维影像，此类影像对上颌前磨牙的显示清晰度低，存在重影、伪影，且不能进行三维方向的测量。锥体束状计算机断层(cone-beam computed tomography，CBCT)的出现解决了上述问题，相较于二维影像，CBCT影像无放大率，图像清晰、重影伪影少，还能从不同断面、不同角度对目的区域进行观察测量。CBCT与传统CT比较具有扫描区域小、拍摄时间短、放射量低及费用低等优点。现已有学者应用CBCT对不同垂直骨面型患者上切牙位置进行了详细的研究，但CBCT对上颌前磨牙位置的研究尚未见相关报道。　　 目的：探讨治疗前不同垂直骨面型患者上颌左侧前磨牙的位置是否存在差异，为正畸诊断、治疗计划的制定及治疗过程中牙齿三维方向的控制提供参考。比较各类骨面型中上颌左侧第一前磨牙与第二前磨牙在牙槽骨内的位置，为正畸治疗过程中牙齿的移动方式提供理论依据。　　 方法：从中山大学附属口腔医院正畸科选取正畸治疗前病例59例(15～30岁)，根据FMA角分类，高角型组20例、均角型组19例、低角型组20例。采用CBCT进行全颅面拍摄，选取与横断面、矢状面、冠状面牙轴垂直且以阻力中心为原点的坐标，对上颌左侧前磨牙与颅骨的关系、牙槽骨厚度、牙槽骨高度、牙齿的旋转角度进行定量测量，以单因素方差分析(one-way ANOVA)和LSD-t检验进行数据的统计学分析。分别测量上颌第一前磨牙、第二前磨牙与颅骨的关系、牙槽骨厚度、牙槽骨高度、牙齿的旋转角度，用t检验对两者的测量结果进行比较。　　 结果：⑴上颌左侧第一、第二前磨牙根尖至腭侧骨皮质的距离，低角型组大于均角型组，均角型组大于高角型组(P＜0.05)。上颌左侧第一、第二前磨牙处颊腭侧牙槽嵴高度，高角型大于均角型，均角型大于低角型，且腭侧比颊侧高(P＜0.05)。⑵上颌左侧第一、第二前磨牙牙轴与腭侧骨皮质的夹角，低角型组比均角型组大，均角型组比高角型组大(P＜0.05)。上颌左侧第一前磨牙根尖到腭平面的距离，高角型组最长，低角型组最短(P＜0.05)。⑶上颌左侧第二前磨牙阻力中心到根尖的距离，均角型组最大，高角型组最小(P＜0.05)。上颌左侧第二前磨牙根尖到腭平面的距离，均角型组最小，高角型组最大(P＜0.05)。⑷各骨面型中，根尖至颊侧骨皮质的距离与牙根颊侧旋转角度、颊侧旋转距离及最大旋转距离，上颌左侧第二前磨牙均大于上颌左侧第一前磨牙(P＜0.05)。⑸在均角型和低角型组中，颊侧牙槽骨高度与阻力中心到根尖的距离，上颌左侧第二前磨牙均大于上颌左侧第一前磨牙(P＜0.05)。在低角型组中，牙轴与腭侧骨皮质的夹角，上颌左侧第一前磨牙大于上颌左侧第二前磨牙(P＜0.05)。　　 结论：①在上颌左侧前磨牙区，腭侧牙槽骨厚度，低角型组大于高角型组，腭侧厚于颊侧；颊腭侧牙槽骨高度，高角型组大于低角型组，且腭侧高于颊侧。②上颌左侧第一、第二前磨牙牙轴的颊倾程度，高角型组大于均角和低角型组。③不同垂直骨面型的上颌前磨牙牙根在牙槽骨内的移动范围均无差别。④颊侧牙槽骨的厚度，上颌左侧第二前磨牙区大于第一前磨牙区；上颌左侧第二前磨牙在牙槽骨内的移动范围大于第一前磨牙。