基于谱分析的混合信号BIST技术研究

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随着片上系统(SOC)设计复杂度的增加,以及模拟电路自身的复杂性,测试变得更加困难,因此研究模数混合信号电路的内建自测试具有重要的意义和应用价值。  混合信号电路种类繁多,测试需要建立具有通用性的模型,本文引用Volterra级数来描述非线性模拟电路和混合信号电路的行为功能,对其进行建模分析并研究Volterra级数模型的频域核的求取算法,然后提出一种基于谱分析的混合信号BIST方案,用伪高斯随机信号激励被测电路,直接根据电路输出的频谱特征通过故障字典进行故障诊断,并对BIST系统主要模块进行设计。  通过引用Volterra级数模型来描述被测电路行为,保持了良好的测试精度。伪随机信号激励,包含多频率成分,可以由线性反馈移位寄存器(LFSR)来产生,并且在故障诊断时进行一次测试就可以获取被测电路状态的特征向量,避免扫频法的繁琐步骤,使故障诊断得到简化,提高了故障覆盖率且不会产生大面积的开销。  最后通过实例仿真分析证明了方案的可行性,本文选择的特征具有一定的故障分辨率,即当电路某元件发生很小的变化时,特征值就会有较大的变化,因此不仅可以准确的进行故障诊断,还能更好的方便故障定位,本文研究对混合信号电路测试具有积极地意义。
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