近年来，随着电子电路技术的飞速发展，电子设备功能和结构的日益复杂，电路测试在电路和系统设计中的作用越来越重要，测试开销所占的比例也随之不断上升。实践表明，对一个不具有可测试性的电路进行测试是徒劳的。因此，在电路的设计阶段就考虑电路的测试问题，对电路进行可测试性设计是十分必要的。 目前常见的可测试性设计方法主要有改善设计法、结构设计法和边界扫描测试法等几种。它们通常需要增加额外的测试电路和控制逻辑，在提高可测试性的同时也增加了电路复杂性。而随着故障诊断技术的发展，可以利用专业工具的仿真功能对实际电路进行仿真，从而在电路的设计阶段便通过软件来进行可测试性分析。 LASAR(逻辑自动激励与响应)便是这样一套用于数字电路测试开发和逻辑分析的仿真软件系统。使用LASAR软件进行数字电路的可测试性设计可以分为电路建模、编译激励、好板仿真和故障仿真几个步骤。对于一个被测电路，首先要用网表语言对其结构和功能进行描述，并在器件模型库中找到电路元件的对应模型，由模型编译器对这两部分内容进行编译，建立被测电路的仿真模型。然后用激励描述语言对输入激励进行描述，并通过激励编译器对激励描述文件进行编译。将编译过后的激励施加到无故障的电路模型中进行好板仿真，其结果输出为结点响应和时序冒险两部分内容。结点响应为被测电路对于输入激励的响应波形，可以通过波形查看工具PERUSE进行观察分析。时序冒险则列出了