均匀设计是最重要的空间填充设计方法之一,已被广泛应用在各类试验中,特别是在计算机试验中.所谓均匀设计就是使试验点均匀地散布在整个试验区域内.为了度量单位超立方体内的n个试验点的均匀性,统计学家提出多种偏差.常用的偏差有：Lp-星偏差、中心化L2-偏差(CD)、可卷偏差(WD)、对称偏差(SD)以及混合偏差(MD)等.MD相较于过去的偏差,在直观统计意义、覆盖率、维数灾难的控制等方面均表现的更为突出.因此,在MD准则下构造均匀设计也至关重要.目前构造均匀设计的方法有多种,如好格子点法(glpm)、门限接受法(TA)、切割法(cutting method)等.当n→∞或s较大时,从计算复杂度的角度考虑,构造相应的均匀设计很困难.Ma and Fang(2004)提出了在CD、SD和Lp-星偏差下构造均匀设计的切割法.Fang and Qin(2003)提出了在CD和WD准则下构造均匀设计的折叠法.本文我们将切割法和折叠法推广到MD准则下均匀设计表的构造中,并给出了折叠法中的新设计和两个原始设计的MD值的关系表达式.这两种方法相对于其他方法,有计算量小的优点,且最终得到的设计的均匀性也很好.