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采用Ti3Al合金靶,分别应用脉冲激光沉积(PLD)法和磁控溅射法构架了Pt/Ti-Al-O/Si MOS异质结,研究了激光能量密度对Ti-Al-O薄膜电学性能的影响。实验表明,1.25 J/cm2的激光能量密度下,Ti-Al-O薄膜具有明显的频率色散现象,但其具有较高的介电常数(13)和较低的漏电流密度(1 V栅压下,其值约为2.0×10-6 A/cm2)。采用TiO2-Al2O3(摩尔比为2:1)复合氧化物靶,用PLD技术分别在Pt/Ti/SiO2/Si(001)和Si(001)基片