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本文对在使用投影仪和相机的三维图像测量中关于投影仪投影模式光进行了研究。首先分析了以前常使用的强度渐变模式光和最优化条纹模式光的优点以及一些问题点，比如对应困难，条纹使用根数有限等，然后提出了用两组最优化条纹的方法来增加条纹可使用数量，同时提高对应准确率。提出的改进后的投影模式光有两组优化条纹，而为了区别出这两组条纹，给第二组条纹增加了一些特征。通过计算每根条纹强度的标准偏差辨别出条纹属于哪一组。最后给出了可行性验证实验，即用改进后的条纹对各种物体进行实验，由于相邻条纹之间强度差与原来相比变大，对应比以前更准确。通过得到的实验结果，证明比起以前的条纹模式光，用两组优化条纹光进行三维图像测量的方法可以提高条纹的对应准确度。