本文基于帕邢定律,采用数值模拟的方法,研究了不同结构PDP放电单元静态和动态着火电压的情况。所编制的计算软件考虑到各种结构的特点,具有一定的通用性。利用该软件计算了表面放电结构PDP(ACCPDP)和荫罩式PDP(SMPDP)中,沿不同放电路径着火电压的分布情况,并研究了放电单元中单元高度、介质层厚度和介电常数、荧光粉层厚度变化对于着火电压的影响,模拟发现,SMPDP的着火电压低于ACCPDP,且上述结构参数的变化对于SMPDP的影响均接近或小于ACCPDP。本文还研究了寻址期ACCPDP中X电极偏压和SMPDP中障壁电位对于放电的影响。模拟发现,寻址期在ACCPDP的X电极加一定的正偏压和在SMPDP的障壁上加低负压,都能达到较好的壁电荷积累。本文在理论计算的基础上,基于气体放电相似性定律,设计和制作了ACCPDP和SMPDP以及对向放电结构的放大单元;建立了包括高速ICCD、滤色系统、数字时序控制电路、高压驱动电路的PDP光发射测试系统,利用实验方法,对PDP的某些放电特性进行研究。本文拍摄了ACCPDP和矩阵对向放电单元(ACM)放电过程,并且研究了ACCPDP维持放电过程中,红外谱线和640nm谱线的分布情况,上述结果与参考文献中的结果基本一致,这为放大模型和测试系统的正确性提供了佐证。本文拍摄了ACCPDP寻址放电过程,并研究了不同Vx偏压对于寻址放电的影响,放电过程中光发射分布间接证明了第三章模拟结果的正确性。本文还首次拍摄SMPDP放大单元和实际单元中放电过程,指出了SMPDP上下半周期放电的不对称性。放大单元中,电极间距、电极宽度、介质层厚度以及电极形状能够极为方便的改变,本文研究了ACCPDP和SMPDP中上述结构因素对于放电效率的影响,为单元的优化、显示效率的提高提供了建议。