太阳能作为新能源目前得到了国际的极大重视，以晶硅太阳电池为主的光伏行业正在快速蓬勃的发展之中，在技术水平和生产工艺不断进步的今天，对于太阳电池片以及组件的质量要求越来越高，而随着生产技术的日趋自动化，集成化和规模化，电池片和组件中的缺陷也越来越复杂，对于光伏产品的影响也变得越来越大。所以，对于太阳电池片以及组件进行检测和特性测量具有十分重要的意义。本文着重对利用电致发光检测晶硅太阳电池中的缺陷和特性以及对利用电致发光技术测定晶硅太阳电池少子寿命进行了研究。利用电致发光技术，可以快速准确地检测晶硅太阳电池中存在的隐裂、断栅、黑片、烧结污染和工艺污染等问题。而对太阳电池组件的检测可以找出组件中存在的虚焊、短路、电池片不均等问题。进一步地，我们在对传统晶硅太阳电池缺陷的检测基础上，结合多种检测方法，对磷墨印刷SE电池的电致发光进行了讨论和分析，通过检测可以证明SE电池可以提高短波响应，减小栅线接触电阻，提高短路电流和开路电压从而提高太阳电池效率，也验证了电致发光技术检测太阳电池缺陷的准确性。同时讨论了利用电致发光量化测定晶硅太阳电池特性的研究，通过理论推导和计算得到了晶硅太阳电池电致发光强度与少子寿命的关系，讨论了晶硅太阳电池电致发光的影响因素，结合准稳态光电流衰减法测量得出的实验数据，与一系列太阳电池的性能参数和电致发光强度进行比较，探究了电致发光法测定晶硅太阳电池少子寿命的方法并利用实验进行了验证，实验证明此方法可以有效的测定晶硅太阳电池的少子寿命且准确率较高，同时所耗时间大大缩短，可以在10秒的时间内得到太阳电池少子寿命的具体数值，而且可以利用此方法测定晶硅太阳电池少子寿命的面分布，测定电池某点或某个区域的少子寿命数值。对比目前普遍使用的微波光电导衰退法，此种方法能够快速、稳定、准确地测定晶硅太阳电池的少子寿命，适合大规模生产的需要，具有推广的价值。本文的意义在于提出了一种快速测定晶硅太阳电池少子寿命的方法，并将其测试时间缩减到了10秒以内的水平，对于目前抽检的测试方法，可以将其应用到工业化生产上，并实现在线对每片电池的检测，对于光伏产业将有非常大的显示意义和应用前景。以上研究得到了国家重点基础研究发展计划（2012CB934302）的支持。