本文利用理论分析、计算机模拟相结合的方法对基于不同扫描面形状和不等间距扫描的平面波综合技术进行了研究，并在此基础上将其应用于近场天线测量中。文中主要工作如下:　　首先，在二维问题中，研究了圆弧阵列及圆环阵列基于最小二乘法的平面波综合特性，对圆弧及圆环扫描应用于近场天线测量进行了计算机模拟，并将所得结果与直线阵列所得结果进行了比较。证实了圆弧阵列和圆环阵列相比直线阵列具有更强的角度扫描能力。　　其次，采用遗传算法对直线、圆弧、圆环阵列的单元位置进行优化，分析了其平面波综合特性。并对该方法在阵列天线近场测量的应用进行了理论分析和计算机模拟，得到阵列天线的方向图，与等间距阵列进行平面波综合所得的结果和理论结果进行比较。在探头扫描取样点数相等的情况下，探头位置经遗传算法寻优后得到的结果相比等间距扫描的结果有了明显改善。　　最后，研究了以半波对称振子作为扫描探头的柱面阵列及球面阵列基于最小二乘法的平面波综合特性，并对柱面及球面扫描应用于近场天线测量进行了计算机模拟。证实了最小二乘法平面波综合技术应用于不同扫描面形状的平面波综合中的可行性和有效性;柱面阵列和球面阵列相比平面阵列具有的更强的角度扫描能力。　　结果表明:本文方法在保证和提高测试精度的同时有效地减小了对探头扫描取样点数的要求，进而极大地提高了测试效率。