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中强度高导电率Al-Mg-Si合金导线的导电率与抗拉强度主要受合金化与时效工艺两种因素影响，通过研究不同含量Mg、Si元素在不同时效条件下的微观状态，对试样的电阻率、抗拉强度进行对比分析，发现时效时间过长、温度过高或Mg、Si元素增多都会引起试样电阻率升高，其抗拉强度随合金元素增多而增大，随时效时间延长先升高后下降。人工时效后，实验试样中析出具有独立晶格结构的Mg2Si强化相，部分Si与少量Fe在Al中可以形成AlFeSi相，与Mg2Si依附析出，可以钝化Mg2Si尖角，减少应力集中导致的晶间腐蚀，进而提高合金的抗拉强度与导电率。当Mg、Si含量较多时，Mg2Si强化相密度较大，在成形过程中易在合金导线中形成中心裂纹，降低其抗拉强度，但对其导电率影响不大。Al-Mg-Si合金导线性能的理论分析中发现，在MИTИCCEH-ΦИЛEMHГ规则基础上，引入空位对Al-Mg-Si合金导线电阻率的影响，可将导线电阻率的理论计算误差率由13.3%降至3.6%，提高了对合金导线电阻率的预计算能力。经过高温挤压成形，基体中大量空位消失，因此可在保证导电率的情况下，有效的提升Al-Mg-Si合金试样的抗拉强度；人工时效后，大量Mg2Si强化相析出，起到弥散强化效果，理论计算认为这两种强化方法是最有效的强化手段。通过优化合金成分及时效工艺，制备出了一种中强度高导电率Al-Mg-Si合金导线，导电率为60.6%IACS时，强度达到了230MPa，其综合性能高于目前普遍应用的中强度高导电率铝合金导线。