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本论文包括上海EBIT装置平面晶体谱仪控制系统研制及谱仪的离线测试和负离子与原子碰撞截面的实验研究两部分内容。
本论文的主要内容是上海EBIT装置平面晶体谱仪控制系统研制及离线测试。控制系统其硬件分为三大块：CCD转动、晶体上下平移和转动。软件应用Labview7.0图形编程语言，运行于windows2000操作系统，采用了分层次和模块化思想，结构清晰，便于维护和升级。另外，我们利用自行搭建的X射线发生器，对平面晶体谱仪成功地进行了离线测试。
论文的另一个工作是利用已经建好的负离子与原子碰撞电子脱附系统(包括铯溅射负离子源，同位素分离器，真空系统，气体碰撞靶室，单粒子探测系统和数据采集系统)，应用增长率法测量了Si<->和Ge<->与氩气碰撞的单电子脱附截面，负离子能量范围为10-40keV。