近年来，由于磁性薄膜在超高密度磁记录介质、磁光记录介质、薄膜磁头以及传感器等方面的广泛应用，使其在基础和应用研究中受到了广泛地关注。受近期实验的启发，本论文使用经典的Heisenberg模型并采用Monte Carlo方法模拟研究了硬磁/软磁双层膜系统的热力学性质，并用微磁学的方法研究了硬磁/软磁双层膜系统的磁化过程。　　利用Monte Carlo方法研究了硬磁/软磁之间的层间交换耦合作用，硬磁层的磁晶各向异性以及外场对硬磁/软磁双层膜系统的热力学性质的影响。计算结果表明，硬磁/软磁之间的层间交换耦合作用、硬磁磁晶各向异性增加时，双层膜系统的转变温度受硬磁层的影响而向高温方向移动，系统的磁化率和磁比热的峰值均相应移动;在外磁场的作用下，系统的磁化强度随着磁场的增大而增强，磁化率受到磁场的抑制，而磁比热表现为在低温处受到抑制，高温处被增强的复杂行为。　　用微磁学的方法尝试研究了硬磁/软磁之间的层间交换耦合作用、外场取向对硬磁/软磁双层膜系统的磁化过程的影响。计算结果表明，当硬磁/软磁之间的层间交换耦合作用增加时，系统的磁滞回线变窄，矫顽力逐渐增加然后趋于定值;随外场与硬磁层易轴方向间的夹角的增大，矫顽力减小;考虑到温度会引起薄膜内自旋方向的随机涨落，通过调节自旋的初始状态的方法，利用微磁学方法尝试模拟了温度对硬磁/软磁双层膜系统磁滞回线的影响，与Monte Carlo方法比较，模拟得出的结果基本吻合。