二氧化锰阴极片式钽电容器因其体积小、容量大、漏电流小、温度和频率特性好、可靠性高、寿命长等优点在电子装备中一直有着广泛的应用。然而，随着片式固体钽电容器在高频、低阻抗电路中的广泛应用，二氧化锰阴极片式钽电容器特有的一种失效模式——浪涌电流失效模式成了困扰制造商和用户的一个问题，是制约其在高可靠领域应用的一大障碍。目前为止，国内针对片式钽电容器浪涌电流失效进行专题研究的公开文献报道较少，从事类似产品研发的单位也不多，因而该研究领域在国内仍处起步阶段。但是，国外对片式钽电容器浪涌电流失效的研究报道较多，关于其失效机理已经出现了多种流派，大概分为4种类型，即(1) KEMET公司提出的“闪火击穿理论”；(2) NASA提出的“电压振荡理论”；(3)AVX公司提出的“局部热击穿理论”；(4)KEMET公司提出的“机械应力理论”。本文参考国外的公开报道，基于片式钽电容器浪涌电流失效机理的4种理论框架，从产品设计、制造工艺和使用性能等方面，对片式钽电容器的浪涌电流失效进行了较全面和较系统的研究。本文分别在宏观和微观尺度上，分析和讨论了导致片式钽电容器浪涌电流失效的可能原因，得出浪涌电流失效是场致击穿而非热致击穿，钽块强度和结构稳定性是造成浪涌电流失效的主要内在因素，而外部电场的高低及焊接温度应力则是导致浪涌电流失效的关键外部因素等结论。与此同时，论文还针对这些原因给出了采用横向成型法、3次循环焊接、1.2倍额定电压筛选等设计和筛选对策，以最大限度地降低浪涌电流失效比率。论文在进一步提高片式钽电容器质量及其在低阻抗、高浪涌电流电路中的使用可靠性、提升企业技术水平和市场竞争力等方面，具有直接的实际意义。