近年来,随着信息技术的发展,数据存储量持续增长。专家们认为,目前信息技术已经进入以存储为核心的发展阶段。随着存储软硬件规模的扩大,存储设备的兼容性问题成为目前用户最关心的问题。存储产品兼容性测试的需求日益突出。当前对存储兼容性测试进行研究,有助于对存储兼容性测试进行全面了解,提升存储兼容性测试的质量。兼容性测试虽然无法做到完全的质量保证,但兼容性测试是存储产品测试必不可少的重要步骤之一。因此,对存储产品来说,忽视其兼容性测试,必将会导致用户在使用时因兼容性出现故障的概率较高。所以,如何在有限的成本和资源考虑下,针对产品规划出适当的兼容性测试,是所有兼容性测试技术人员关注的重点。本文在“存储解决方案与兼容性测试”项目的支持下,对存储基本兼容性和VxVM兼容性测试进行了详细设计与实现,并提出了两种快速有效的故障诊断策略。本文的主要研究内容如下:(1)针对存储产品的应用特点,分析了其兼容性测试需求,制定了基本兼容性测试用例设计框架,并使用配对组合覆盖技术设计了基本兼容性的测试案例。该方法可生成最小组合覆盖测试案例集,从而大大降低测试成本,提高测试效率。(2)针对存储兼容性测试缺陷定位难的问题,提出了两种故障诊断策略。一种是基于最小组合覆盖集的故障诊断策略,适用于多个案例发生同种故障的情形;一种是基于模糊聚类的故障诊断策略,可以充分利用历史上的测试数据来进行快速的故障诊断定位。(3)实例分析存储基本兼容性测试,根据问题的严重程度对测试结果进行统计分析,实验证明上述测试设计可以有效地发现被测系统中存在的问题。(4)基于探索性测试思想,制定了存储产品与VxVM的兼容性测试框架,并对测试结果进行分析。