本论文基于国家自然科学基金课题“面向动态不确定性的计划产能预测与风险决策研究”(批准号:70701007),关注半导体制造企业的短期生产能力规划风险问题,进行计划产能过计划与欠计划的风险评估与控制研究。半导体产品的繁多种类、制造的复杂工序以及对设备的高利用率要求等特点给半导体产能规划带来很大的难度,其产能规划过程充满了很多不确定的因素,为企业带来了不可避免的产能规划风险。计划产能过剩或计划产能不足会对企业造成巨大损失。本文针对产能规划风险进行研究,建立产能规划风险评估模型,量化计划产能过剩或不足的可能性大小;进而识别产能规划过程的风险因子,进一步制定风险控制策略,避免产能计划过剩或不足带来的损失。主要内容包括:基于风险价值理论的产能规划风险评估研究。分析了风险价值用于产能规划风险评估的可行性,建立了基于风险价值理论的产能规划风险评估模型,并依据该模型计算得到了产能规划的风险评估结果。基于故障树分析方法的产能规划风险因子识别研究。结合风险识别的现有方法,分析了故障树法在产能规划风险因子识别中的应用可行性。从影响产能规划的关键因素出发,通过故障树的层层逻辑关系,进行了产能规划风险因子的定性与定量化研究。基于模糊综合评价方法的产能规划风险控制策略制定研究。针对本文制定风险控制策略的特点,将模糊综合评价方法应用于风险控制策略的制定中。基于识别出的风险因子,初步制定出风险控制措施,进一步利用模糊综合评价方法,制定出适用于半导体制造产能规划的风险控制策略。产能规划风险评估及控制系统设计研究。基于产能规划风险评估与控制的研究成果。对从风险定量评估、风险因子定性定量识别到风险控制策略制定的整个系统进行了设计。