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本文采用交替磁控溅射的方法制备了Si/SiO_2复合膜和SiO_2 /Si/SiO_2三明治结构,并对Si/SiO_2复合膜采用了快速退火加炉内退火的二步退火处理、对SiO_2 /Si/SiO_2三明治结构进行了炉内退火热处理工艺制备硅量子点。同时采用反应溅射的方法制备了不同元素比的Si_OxN_y薄膜,并进行了炉内退火处理得到不同状态的硅结晶。通过微观结构(TEM)的观察,以及成分(EDS),表面键(FTIR)的分析,对在不同系统薄膜中硅量子点的生成规律进行了研究和讨论,并对薄膜进行了发光性能(P