绝缘材料是构成电气绝缘器件的基本材料之一,绝缘材料的绝缘性能可以直接影响到电力设备和整个供电系统的安全。由于绝缘材料在制备和使用过程中受到电、热、机械等多重因素的影响,不可避免的会产生内部或表面缺陷,致使其电气性能逐渐下降,严重时会发生绝缘失效。因此,为了减少因绝缘材料机械缺陷产生的安全隐患,对绝缘材料进行缺陷检测尤为重要。目前电力行业广泛应用的缺陷检测方法,由于受技术本身特性的影响,在对材料进行缺陷检测时会存在一定的局限性。与传统的检测方法相比,太赫兹成像技术是一种新型的可视化检测方法,不仅具有较高的安全性和抗干扰能力,而且可以和现有的无损检测方法形成良好的优势互补。本文主要对太赫兹成像技术在绝缘材料无损检测方面的应用展开研究。首先在实验的基础上研究了电力系统中常见的硅橡胶和环氧树脂两种绝缘材料的太赫兹波段响应特性。其次根据硅橡胶和环氧树脂两种材料常见的分层、夹杂等多种缺陷的特点制作了相对应的人工缺陷样品,并进行了太赫兹无损检测,完成了对两种绝缘材料多种缺陷检测结果的分析和讨论。主要的研究工作包括:（1）利用透射式太赫兹时域光谱系统对三组不同厚度的绝缘硅橡胶和环氧树脂材料进行了太赫兹光谱测定,并从时域谱、频域谱、吸收谱和折射谱的波形特征讨论分析了两种绝缘材料在太赫兹波段的响应特性。（2）采用太赫兹时域光谱系统分别对绝缘硅橡胶材料常见的表面划伤、分层、夹杂三种缺陷做了太赫兹光谱的透射测定和讨论分析,获得了0.2～1.5THz频段范围内三种不同缺陷的时域谱、频域谱、折射谱和吸收谱。通过与无缺陷硅橡胶样品的THz吸收光谱进行对比,详细讨论分析了不同缺陷的THz特性吸收峰值的产生原因。（3）基于透射式太赫兹时域光谱系统分别对环氧树脂复合材料在生产和使用过程中出现的分层、夹杂以及裂纹缺陷做了太赫兹光谱的透射测定,获得了0.2～1.5THz频段范围内三种不同缺陷的时域谱、频域谱、折射谱和特征吸收谱。通过对环氧树脂实验数据及缺陷结构的分析,讨论了所测光谱差异性的来源。