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随着智能卡在金融、身份证明、移动通信、交通和医疗等领域的广泛应用,人们对智能卡的功能及安全性能要求越来越高,智能卡技术也得到了较快发展,智能卡芯片变得越来越复杂,智能卡芯片在流片前的测试工作量也变的越来越大,因此寻找高效、稳定和合理的测试方法也变得异常迫切。本文基于一款双界面智能卡芯片提出了智能卡芯片的一种自动化测试方法,改进了传统的智能卡测试系统,主要研究了智能卡测试系统中的测试平台端的软件架构及其具体的自动化实现方法。该测试方法适用于芯片的FPGA硬件板级平台,其主要研究内容同样适用于系统级ASIC仿真验证平台。该测试方法主要针对芯片流片前的芯片模块测试和芯片系统级功能测试,可同时验证芯片的硬件设计、驱动软件和测试代码的正确性。