表面贴装设备中高密度封装芯片的视觉检测与定位算法研究及其实现

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表面贴装技术(SMT)作为新一代电子组装技术已经渗透到各个领域,其发展迅速,应用广泛。贴片设备是SMT生产线中最关键的设备,通常占到整条生产线投资的60%以上,高速、高精度、多功能是其发展方向。表面贴装元器件(SMC)向短、小、轻、薄方向发展,各种高密度新型电子元器件的出现给SMT设备以及SMT工艺材料的发展提出了新的挑战。本文针对开发和研制国产高速高精度贴片机的需要,选择贴片机的视觉系统作为研究对象,分析和研究了高密度封装芯片的视觉检测与定位算法。本研究主要内容及结果如下:   ⑴针对高密度封装芯片的图像分割问题,提出一种基于遗传算法的最优阈值分割算法。该算法在原始图像直方图统计的基础上,通过引进智能算法,以二维最大熵函数为适应度函数确定最优分割阈值,有效地平衡了时效两方面矛盾,并且具备一定的自适应性。   ⑵有针对性的对现有QFP检测定位算法加以改进,在点分析、边界跟踪、曲线拟合等图像处理技术和数学理论基础上,膨胀操作简化四边分割,点与直线的关系分离引脚的贴装部分和连接部分,最小二乘法拟合直线获取偏转角度。优化后的算法无论从理解上还是实现上都更为简单。试验结果表明满足精度要求,较已有算法在速度上有所提升,同时还有很强的鲁棒性。   ⑶对于BGA芯片的检测定位问题,在分析已有两种检测定位算法优缺点的基础上,创造性的提出一种新的基于Hough变换思想的BGA芯片识别算法。由于全是线性运算,算法在速度和精度两方面得到了均衡。相比已有算法,特别适合于角度识别。
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