阵列天线因为高增益、强方向性等优势而被广泛应用于现代通信设备中,并随着通信设备性能要求的不断提高,阵列天线也朝着高效率、小型化的方向发展。单元间的互耦会导致天线单元的辐射特性恶化,进而影响整个天线阵列的性能。因此就需要分析天线单元的互耦效应,研究天线端口间的去耦合结构的设计,降低天线之间的相互耦合,这对于阵列天线进一步的发展有着重要的价值。本文基于现有的去耦合技术,完成了天线单元之间多种去耦合结构的设计,并结合相关的去耦合理论介绍了一种应用于微带天线阵列的去耦合方法。第一部分,本文以天线单元间互耦的阻抗效应为基础,分析了互耦对阵列天线性能的影响,具体介绍了互耦效应的两种分析方法。第二部分,以双单元印刷单极子天线为例,设计了三种去耦合结构,即辐射面去耦合网络、接地面去耦合网络和金属隔板去耦合结构,并通过软件仿真或暗室实验证明了三种结构对减小天线端口之间耦合的效果。第三部分,结合微带天线的基本原理以及对单元之间的耦合机制的理解,将接地面缝隙结构引入到微带天线阵列的去耦合处理。设计了一款微带串馈天线阵列组成的三端口收发天线,通过观察加入接地面缝隙结构前后的天线辐射性能验证了接地面缝隙结构的去耦合效果。