DAC的主要测试参数包括静态参数(DNL, INL等)和动态参数(SNR, THD, SINAD, SFDR等),高精度的DAC分别要求测试设备的电压分辨率和动态范围应该覆盖超过芯片参数本身；当要求不能满足时,测试得到的是设备自身精度而非芯片的参数,结果的准确性便得不到保证。本课题主要的研究的预期思路是从现有的16位高精度D／A数据转换芯片的测试入手,对于静态参数,通过对每个数字输入码的对应模拟输出施加不同台阶电平,并用高精度差分电压测试表在小量程下提高电压分辨精度；而对于动态参数,在数字端施加正弦响应,对模拟端输出的基频信号通过节点滤波器在频域进行抑制后,将噪声和高次谐波经过放大器以满足测试设备的动态范围要求。在该方案中,测试方法的误差自校准和效率提高也将被考虑。对于测试方法的改进将包括外围硬件电路设计,测试程序编写,调试,基于自动测试设备(ATE)的实现,以及同芯片设计标称值比较验证,以在保证测试精度的同时提高效率。