为建立千克量子化基准与实物基准之间的关系,中国计量科学研究院提出能量天平方案,其普朗克常数测量不确定度已达2.4×10^-7,处国际领先地位。精确测量普朗克常数需要磁体系统在气隙中产生线性度高、稳定性好的水平磁场。为降低温度对气隙中磁场的影响,将普朗克常数的测量不确定度降至5×10^-8以下,本文对两种磁体系统的温度场分别展开研究,进行了如下工作:1.利用有限元分析方法仿真得到电磁体系统温度场分布的三维图像。并利用高精度铂电阻对磁轭以及气隙空气的温度进行实测,测量悬挂线圈电阻变化反推线圈温升,最终确定磁体系统的温度变化曲线。仿真结果与实验数据相互印证,得到温度对普朗克常数测量存在10^-5量级的影响。2.采用“温度变换法”精确测量永磁体系统的温度系数为-2.92×10^-44 K^-1,实验证明永磁体物理结构与其温度系数无明显关系,为科学评估温度对普朗克常数测量不确定度的影响打下基础。3.在永磁体系统温度场理论分析的基础上,发现永磁体系统在垂直方向上存在温度差异,磁盘在不同工作模式下存在温度差异。再利用有限元分析方法仿真得到温度场的二维图像。最后对磁盘温度进行实测,验证理论与仿真结果的正确性,得到温度对能量天平普朗克常数测量不确定度的最大影响在10^-7量级。在上述工作基础上,提出改变磁体表面辐射系数,改变天平支撑结构等可行方案,以减小磁盘的温度差异,提升气隙中磁场的稳定性和均匀性,减小温度引入的普朗克常数测量不确定度。