随着集成电路的设计趋势正在快速的朝向片上系统SoC(System-on-a-Chip)设计方法的转变,逐步的将各种预先设计和验证的芯核集成在一个芯片上,这样增加了设计产量且缩短了产品投放市场的时间,但是同时给测试也带来了挑战。测试数据的不断增加、测试时间的增长使得测试的成本越来越大,为了缓解这些问题,必须对测试数据进行压缩。本文从几种经典的测试数据压缩方法入手,对各种方法的优缺点进行了分析,总结出了每种方法各自的适用范围,并在此基础上提出了部分改进。本文主要工作如下: 1.总结了当前各种编码压缩技术,对每种方法的特点做出了总结和分析,着重分析了交替与连续长度码和折叠计数器这两种方法,总结其适用范围,找出其不足之处,并在后边的工作中对其作改进 2.对测试集差分向量中的连续的0进行编码是一种很经典的方法。但是不能很好的适应差分向量中连续的1和10交替的情况,交替与连续长度码可以很好的解决这个问题。本文对测试集进行预处理,使得预处理后的测试集能更好的用交替与连续长度码进行编码,实验结果表明,本方法可以有效的实现对测试数据的压缩。 3.针对传统的折叠计数器技术需要重新播种的问题,本文给出了一种方法,它不需要进行重新播种,当一个折叠集生成完毕之后,可以通过在若干个中间折叠集的跳转跳转到下一个折叠集。文中将用数学方法证明这样的中间折叠集是存在的,并且经过的折叠集的个数最少。本方法硬件丌销较小,通讯协议简单,但是其压缩效果非常明显。本方法可以利用折叠计数器的技术处理孤立点较多的问题,扩展了传统折叠计数器的通用性。