基于光栅单色仪的光谱发射率测量装置

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本文基于光栅单色仪研制了一套可以准确测量材料光谱发射率的实验装置,并对常见的两种金属材料铝和铜的光谱发射率进行了系统的研究。文章第一章介绍了本文的研究背景与意义,阐述了材料发射率的在诸多领域的重要应用,总结了发射率的测量方法,并对几种测量方法进行比较,最后对发射率测量现状及存在的问题进行了探讨。第二章简要介绍了和发射率相关的基本热辐射理论,发射率定义的几种常见分类,并给出了每种发射率定义的数学表达式。第三章介绍了自主研制的材料光谱发射率装置的主要组成部分:样品加热及温度控制装置、标准黑体炉、光栅单色
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