随着集成电路制造技术的快速发展,片上复用的IP核数目越来越多。SOC将一个完整的系统集成到单个芯片上,缩小了系统的体积,但同时也增加了系统测试的复杂度。由于IP核的规模有大有小,各个IP核测试时需要的数据端口数目也有多有少,为了缩短芯片的测试时间,需要尽可能并行地测试片上IP核。进行芯核测试时,可能要将几个IP核分配到不同的测试总线上,这就需要对IP核进行测试调度。　　测试功耗、优先级、芯核冲突、资源竞争等因素日渐成为制约芯核测试的瓶颈。本文在分析和研究了已有的约束类SOC测试调度问题的基础上,结合基于测试总线的测试访问机制和基于IEEE P1500环的测试包封标准,对基于测试总线的TAM策略进行分析;结合量子算法,通过分配TAM宽度、选取合适的参数,利用量子算法中的量子比特在求解NP类问题上表现出的优越性,构建基于量子算法的SOC测试功耗和优先级约束的数学模型,提出基于量子算法多约束条件的SOC测试调度算法,使用ITC’02 SOC test benchmarks电路对该算法进行验证得出实验结果。与已有算法相比,证明量子算法在解决功耗和优先级约束的SOC测试规划问题上,与同类其他算法比较有着更好的性能,缩短了SOC测试的时间。