该文介绍了自主设计DSP芯片的重要意义和DSP芯片引入可测性设计意义,最后说明了论文的研究背景和论文的主要工作内容.同时,介绍了现在国内外主流的可测性设计的方法.该文主要从故障效应的角度把可测性设计分为电流测试法和电压测试法两大类.重点讨论了SMQ320C32芯片所采用的测试方法,并且介绍了为实现SMQ320C32的测试而搭建的测试平台.该文阐述了SMQ320C32芯片内部为了满足测试要求所进行的硬件电路设计.首先,讨论了C32芯片与测试总线控制芯片TBC之间的通信接口定义;然后,对TBC输入的控制信号的解码电路的设计讨论;最后,主要是讨论C32芯片内部扫描通路的设计以及所引入的各种扫描寄存器的设计.详细介绍了SMQ320C32芯片内部硬件乘器模块和ALU模块的测试实例.