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随着人们对于无损检测技术的重视程度以及对于成像质量要求的不断提高,全聚焦超声成像技术以其高分辨率、高对比度的特点在超声无损检测及评估领域受到了很大的关注,是近年来极具发展潜力的成像技术之一。然而这一成像方法需要采集和处理庞大的数据量,同时消耗大量的时间,较低的成像效率限制了其在工业实时检测与成像中的广泛应用。为了提高全聚焦成像技术的实现效率,同时最大程度地保证超声检测性能和成像质量,本文将阵列稀疏化方法应用于全聚焦超声成像技术中,并利用遗传算法对稀疏阵列的检测性能进行了优化研究。首先建立了全聚焦超声