数字集成电路测试技术研究

来源 :北方交通大学北京交通大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：Morakot

【摘要】

：

该论文讨论了数字集成电路测试的技术内容与基本概念,数字集成电路测试与数字系统测试的基本技术区别,并对测试向量的应用技术进行了介绍.在论文中,对于当前流行的基于IEEE11

【作者】

：

胡昕

【机构】

：

北京交通大学

【出处】

：

北方交通大学北京交通大学

【发表日期】

：

2002年期

【关键词】

：

VLSI 数字集成电路测试技术 digital IC

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该论文讨论了数字集成电路测试的技术内容与基本概念,数字集成电路测试与数字系统测试的基本技术区别,并对测试向量的应用技术进行了介绍.在论文中,对于当前流行的基于IEEE1149.1的边缘扫描技术,进行了系统的分析和解释;对于测试向量的设计技术进行归纳,总结了测试向量的物理意义,测试向量的设计目标,设计指标等在测试应用领域的关键技术问题.

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