随着信息存储技术的不断发展,用有机小分子材料和聚合物材料代替传统的无机半导体作为信息存储介质成为各国研究的热点。本论文将从有机分子材料入手,介绍有机分子薄膜的几种开关特性机理研究。在此基础上,确定对有机分子薄膜的电学特性进行研究。利用TZ2、DDME、MV115和MV73有机功能分子材料,分别制备基于裂隙的有机薄膜和掺有纳米粒子的有机复合薄膜。用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、紫外-可见分光谱(UV-vis)光谱、表面轮廓仪和电化学工作站等对所制备的薄膜进行了组分、形貌和性能的表征。采用溶胶凝胶法制备SnO2薄膜和CuO掺杂的SnO2(CuO-SnO2)薄膜,研究了升温速率和添加聚乙二醇PEG(1000)和丙三醇对SnO2纳米复合薄膜的物相、微观结构和电学特性的影响。研究结果表明：SnO2薄膜呈四方相金红石结构,CuO-SnO2薄膜升温速率在3℃/min之间比较合适,随着升温速率的增加,SnO2薄膜结晶性逐渐变好,晶粒长大,导电特性好,且掺杂PEG后的SnO2薄膜电阻均小于同等条件下未掺杂的SnO2薄膜。综合考虑薄膜裂隙的微观结构、电学特性等因素,我们确定添加PEG的氧化锡薄膜裂隙,研究基于氧化物裂隙的TZ2和DDME有机分子薄膜的电学特性。制备了有机分子MV115和MV73薄膜以及和不同掺杂的ZnO纳米粒子复合薄膜,系统的研究了添加不同质量的ZnO纳米粒子和掺杂不同元素(Cu, Li, Ag, Cu-Li, Ag-Li)的ZnO纳米粒子对有机复合薄膜的物相、微观结构和电学特性的影响。并测试了有机材料在二氯甲烷溶剂中的紫外-可见吸收光谱。研究结果表明：有机材料MV115和MV73形成致密的薄膜,掺有纳米粒子的薄膜则形成纳米颗粒团聚现象,通过测试电学特性发现实验中制备的薄膜均具有开关现象,控制合适的纳米粒子含量可以实现较好的开关特性。掺有纳米粒子后改善了薄膜的电学特性,基于金属氧化物裂隙的有机薄膜表现出明显的电开关现象,但由于裂隙薄膜自身的导电性较好,易产生导通现象,影响薄膜的开关比；纳米粒子对MV115和MV73复合薄膜电学特性的影响比较显著,加入纳米粒子可减少电极附近的电子与空穴的复合,减小薄膜的开关电压,改善薄膜中载流子传输机率,提高薄膜的开关比。