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随着集成电路设计方法和制造技术的发展，集成电路的规模迅速增加，传统的测试方法已经远远不能适应集成电路发展的需要。可测性设计方法的提出在很大程度上缓解了测试方法落后的现状。但要从本质上解决集成电路的测试问题，就需要在设计过程中应用内建自测试技术。
论文总结了至目前为止嵌入式集成电路故障检测和故障诊断的各类方法和研究进展，着重阐述、讨论了当代嵌入式集成电路可测性设计的内建自测试（BIST）方法。在此基础上，提出了配合内建自测试优化方案的一种BIST控制器的新颖结构，并进行了VerilogHDL设计，仿真结果显示，达到了预期的设计功能要求。