论文部分内容阅读
本文借助SIMS技术,系统地分析了45keV,1×1014、2×1015和5×1015cm-2BF+2注入单晶硅和80keV、2×1015cm-2BF+2注入多晶硅栅在快速退火条件下,F在单晶硅和多晶硅栅中的分布剖面,并对F在单晶硅和多晶硅栅中的迁移特性进行了深入的分析和讨论.F在多晶硅栅中的迁移,不但存在着F的扩散,而且还存在着F的发射和吸收,据此成功地解释了实验结果.