论文部分内容阅读
目的:通过对表面电势VS衰减和开路热刺激放电(open-circuit thermally stimulated discharge ,TSD)电流以及准静态压电d33系数测量,研究干热消毒对聚四氟乙烯(PTFE)多孔膜电荷储存稳定性的影响.方法:将PTFE多孔膜分别在室温、150℃和250℃下通过恒压电晕充电制备成驻极体;分别于150℃、250℃中干热消毒150 min;用补偿法、热刺激放电法和准静态法分别测量样品的VS、TSD电流和 d33.结果:经150℃和250℃干热消毒150 min, 250℃