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可逆电路是量子计算科学、低能耗COMS以及纳米技术研究的基础。针对可逆电路单个门失效错误，本文给出了一种生成完备检测集的方法来检测所有可能的错误。实验结果表明，对于规模较大的电路，现有的DFT检测方法需要添加门的数量占电路中门数量的一半以上，利用本文算法南于不需要添加额外的门，而且得到的完备检测集是所有可能的向量中非常少的一部分.另外，对于某些实现技术，DFT检测方法应用受限，本文给出的方法具有更广泛的应用。