含B闪锌矿三元系半导体BxIn1-xP和BxGa1—xP带隙理论预测

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zbbankcomm
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利用第一性原理计算方法,用广义梯度近似(GGA)处理电子之间的交换关联能,计算了BxIn1-xP,BxGa1-xP的带隙结构。BxIn1-xP的带隙弯曲参数b_Eg(F)=4.32eV,b_Eg(x)=1.8eV,它从直接带隙转变为间接带隙时B的含量为0.47;在小量B的掺入下,可使BxIn1-xP的带隙变小,在X=0.15时带隙达到最小值1.33eV.BxGa1-xP的带隙弯曲参数b_Eg(F)=1.37eV,b_Eg(X)=2.46eV,在整个组分内是间接带隙,BxIn1-xP,BxGa1-xP有较大
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